Xe-CT——急性缺血性脑血管病的特殊检查方法

白*大

大家对氙CT(Xenon-CT)可能还比较陌生，它是利用氙气的放射密度(Xe53)与碘(I54)相近，且易穿过血脑屏障的特点，将其用做CT扫描吸入性弥散示踪剂从而用于患者的脑组织灌注，测量局部脑血流（CBF）变化的技术。

Xe-CT技术需要吸入氙气和氧气的混合气体 ，目前28%氙气和25%氧气的混合气是最常用的，通常需4.33分钟吸入时间。在整个头部取得非增强的基线扫描后，选取４个10mm厚的层面用于研究。每个层面在吸入氙气时需扫描6次。

在这里，我着重讲一下Xe-CT应用于急性缺血性脑血管病。急性梗死灶由缺血中心的坏死灶和其周边的半影区组成；半影区有两种转归:(1)一部分缺血区血流恢复,逐步转变为正常脑组织;(2)可逆性缺血转变为永久性梗死灶。治疗的关键在于早期抢救缺血半影区,使其恢复功能。部分病例首次ＣＴ平扫已显示出低密度灶,但Xe－ＣＴ图像所显示的病灶范围更大,说明梗死灶周围区域血流灌注已经下降。与常规ＣＴ所示的低密度梗死灶不同,表明在脑梗死周围存在着功能受损但结构完整仍有可能挽救的缺血脑组织。缺血半影区应用于临床评估急性缺血性脑血管病,需要明确功能受损和形态学受损的血流阈值,以区分功能受损组织和不可逆性梗死组织。

急性脑梗死患者。应用Xe-CT技术测定缺血中心区，缺血半影区区及正常脑组织局部脑血流，观察梗死发生后局部脑血流的动态变化及其与预后的关系。如图1，我在普通CT上将病变部位和周围相对健康组织分别标注了①、②和③，然后利用Xe-CT测量同一层面的脑血流变化，由表格里的数值或者最右侧颜色条的对比，可以观察出CBF的变化，再根据死亡（梗死区）<9毫升/100克/分钟；有死亡的风险（半影区）9-20；一般风险（血量减少）20-30；无风险>30来判断风险。标①的部分，CBF很低，提示此处为梗死灶，风险很高，若行溶栓治疗后出血相对风险的高。标②的部分为CBF相对减少，提示有缺血的风险存在，可逐步转变为正常脑组织，也可转变为永久性梗死灶。标③的部分为相对正常组织，发生脑血管意外的风险小。

登录/注册后可看大图

（图1）

Xe-CT、灌注CT及PWI已被普遍用于诊断超早期诊断脑梗,其中Xe-CT计算梗死中心区及周边缺血半暗区范围,诊断急性中风病人溶栓治疗后出血相对风险的高低；无论症状发作后的时限,诊断缺血性脑血管病(TIA)；界定慢性缺血患者发生中风的高危人群；预测血栓性脑梗的发生；诊断哪些病人会因蛛网膜下腔出血后血管痉挛出现血流减少和脑缺血而出现神经功能障碍；并鉴别其它原因所致的病情恶化。由于癫痫发作病灶血流增加，因而它可作为寻找慢性癫痫病人发作病灶的工具。

希望对大家在临床诊治中有所帮助！