新研究为双相障碍高危儿童的早期诊断提供线索

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新研究发现父母双相障碍的孩童发生双相障碍的可能性与阈下躁狂发作有密切联系。此项研究发表于《美国精神病学杂志》。这项发现有助于双相障碍的早发现、早治疗（或提供潜在预防措施），提高临床评价和高危儿童的护理效果。
    该研究首次发现，阈下躁狂发作（接近但不满足典型双相障碍标准的体验）是预测高危儿童发生双相障碍和其他精神症状风险的重要参考风险因素。此外，研究人员发现与人群正常后代相比，父母患双相障碍儿童某些精神症状的发生风险大幅升高，其中：阈下躁狂或轻躁狂（13.3% vs 1.2%）；躁狂、混合性躁狂或轻躁狂发作（9.2% vs 0.8%）；重性抑郁发作（32.0% vs 14.9%）。
    主要研究人员David Axelson博士说：“心理卫生从业人员应该谨慎评估高危儿童躁狂、重性抑郁、破坏性行为障碍症状的短暂发作，因为这些可能都是未来患双相障碍的风险因素。如果在儿童中持续使用药物治疗情绪或行为症状，某些药物可能使双相障碍高危个体的躁狂或精神病症状风险增加。因此，医生可选择不同药物，或低剂量使用并密切监测症状发展。”
    高危人群的双相谱系障碍积累率21岁为23%,而对照组只有3.2%.双相谱系障碍的平均发病年龄是12岁（最早的躁狂发作年龄为8岁），由此可见监测阈下症状进行早期干预的重要性。
    俄亥俄州立大学临床精神病学教授Axelson博士说：“许多父/母患双相障碍的儿童在青年时期会出现可诊断的精神障碍，比如注意力缺陷障碍、对立违抗性障碍、焦虑障碍或抑郁，但却不会发生双相障碍。”
    双相障碍高危儿童的研究中，几乎所有最终患病的儿童在双相障碍发作前，都有可识别的情绪发作和其他精神障碍。
    Axlson博士说：“短暂、明显的躁狂症状发作是高危后代双相障碍发展的最特异性预测指标。但迄今为止，许多短暂躁狂发作的儿童没有向典型的双相障碍发展。”
    该研究是匹兹堡双相后代研究（BIOS）的一部分，BIOS是目前最大的有关双相障碍父母及其后代的研究。BIOS的独到之处在于对儿童阈下躁狂症状发作的评估。近期研究确定以及拓展了这些基础发现，并对情绪发作的演变进行描述，力求推动基于阈下发作的早期诊断。
    纵向研究关注高危儿童和人口统计学匹配的父母的后代，对其中91%的后代完成随访，平均随访持续时间为6.8年，使用DSM-IV结构式临床访谈（SCID:Structured Clinical Interview for DSM-IV）（父母）和学龄儿童情感障碍和精神分裂症调查问卷（儿童）。随访主要关注两次访谈的间隔期。
    Axelson博士说：“我还会继续与匹兹堡双相后代项目的研究人员合作。后续我们对参与者的随访将延长至青年期，希望能有更令人振奋的发现，帮助高危儿童诊断和治疗。”